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查看: 1533|回复: 5

[封装设备] D9500 C-SAM超声扫描显微镜

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发表于 2014-2-26 10:44:08 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 董小姐 于 2014-2-26 10:45 编辑

原理:
利用不同材料对超声波声阻抗不同,对声波的吸收和反射程度不同,来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。
主要技术指标:探头频率:15MHz/30MHz/50MHz/100MHz/230MHz扫描范围:327mm×314mm扫描精度:X/Y轴±0.5 μm扫描模式:A,B, C, T, Q-BAM图像最高分辨率:2048×2048


超声显微镜

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应用实例

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发表于 2014-2-27 13:57:45 | 显示全部楼层
无损缺陷分析
发表于 2014-3-3 17:42:17 | 显示全部楼层
纳米所平台的设备还是挺全啊,这都有
发表于 2014-3-5 10:23:15 | 显示全部楼层
介绍得有点简单啊,楼主还有没有更详尽的资料?
[发帖际遇]: 夏湘晖 在论坛发帖时没有注意,被小偷偷去了 1 微纳币. 幸运榜 / 衰神榜
发表于 2014-3-7 10:42:30 | 显示全部楼层
晕,我的钱啊
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